Vous avez une question ? Une problématique Fiabilité ? Contactez nos experts :
Vous avez une question ? Une problématique Fiabilité ? Contactez nos experts :
La conférence européenne sur la microélectronique et l'emballage (EMPC 2025) est la première conférence internationale sur l'emballage microélectronique, détenue et sponsorisée par IMAPS-Europe et co-sponsorisée par IEEE-EPS. Le programme de […]
RADiation and its Effects on Components and Systems
Journée Technique : La fiabilité dans les risques technologiques et ses « gamechangers » organisé par IEEE France Section, IEEE Reliability Society et GeePs Hakeim Talleb, Directeur Adjoint GeePs Laboratory René Garello, Président, IEEE France Section Emna Amri, Présidente Les génies de l’avenir Hichame Maanane, Responsable du Chapitre fiabilité IEEE France Section GRATUIT
This international symposium continues to focus on recent developments and future directions in Quality and Reliability Management of materials, devices and circuits for micro-, nano-, and optoelectronics. It provides a European forum for developing all aspects of reliability management and innovative analysis techniques for present and future electronic applications.
Journée Technique IEEE : Fiabilité des systèmes et des composants électroniques organisé par IEEE France Section (Electronics Packaging Society) sur le site de SLB - Clamart Participation gratuite sur inscription auprès de wilson.maia@ieee.org
Programme 2025
08h00 Retrait des badges et café d'accueil
08h45 Ouverture par François JACQ Président du CNES et Marie-Anne CLAIR Directrice Technique et Numérique du CNES
De l'IA à l'IA générative
La Feuille de Route IA de l'Agence de programme Numérique par Sophie PROUST (INRIA) - Directrice exécutive de l'Agence de programme Numérique, algorithmes, logiciels et usages
Session Pitchs posters
Pause-café / Déambulation dans la zone exposition des posters
CO3D : une plongée dans la 3ème dimension
Regard sur la politique technique du CNES
Session Pitchs posters
12h45 Déjeuner / Déambulation dans la zone exposition des posters
14h30 Les activités scientifiques du Cluster toulousain en Intelligence Artificielle ANITI, hors spatial et spatial
Système de transport spatial intelligent
Digital Twin de systèmes orbitaux : l'apport de l'IA
IA embarquée : contraintes et opportunités
L'IA repense l'extraction d'informations
Session Pitchs posters
Le mot de la directrice Techniques & Numérique du CNES, avant la dernière déambulation
Déambulation dans la zone exposition des posters
17h30 Fin de la journée
Celebrating 10 years of PAC-G Platform for Advanced Characterisation Grenoble, this two day annual event brings together industry and research around #characterization and #reliability for #microelectronics showcasing the unique capabilities of large-scale research facilities. ✨ Join us for: ✔ Inspiring keynote talks ✔ Technical Sessions ✔ Panels, exhibits, facility tours and networking opportunities Expect engaging […]
2e Symposium pour l'Electronique et le Numérique Durables Organisé par Nanoelec, PUI Grenoble-Alpes, Labex Microélectronique UGA et PEPR Electronique. L’électronique et le numérique de demain doivent impérativement se diriger vers une durabilité accrue, dans le respect des limites environnementales et du plancher sociétal. Pour y parvenir, il est crucial de repenser la chaîne de valeur dans son intégralité. […]
join the 14th Power Semiconductor Reliability Round Table, an online technical forum for engineers and researchers tackling the toughest challenges in Wide Bandgap (WBG) reliability testing. Hosted in collaboration with ECPE e.V. and the Cluster of Power Electronics, this event brings together experts to share methodologies and insights critical to qualifying SiC and GaN power […]
PEPR Électronique - Journées scientifiques 2026 Créer de nouvelles générations de composants. Stabiliser des filières technologiques françaises. Page LinkedIn Coordinateurs Scientifiques du PEPR Électronique, Isabelle SAGNES et Thomas Ernst. Les […]