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Aujourd’hui
  • Atelier FREECO (GeePs – SATIE)

    CentraleSupélec 3 rue Joliot Curie, Gif-Sur-Yvettes

    Fiabilité, Réparabilité et Eco-conception de l’Electronique de Puissance (FREECO) Organisé par les Laboratoires GeePs et SATIE, cet atelier vous propose une après-midi d'échanges sur l'électronique en pratique. Réparation d’appareils électroniques Fiabilité et modes de défaillance Eco-conception de l’électronique de puissance (EnPu) Métiers de l’EnPu L'atelier fait intervenir différents acteurs de la filière électronique, laboratoires du […]

    Gratuit
  • 23e éd. du congrès λμ (Lambda Mu)

    Le congrès λμ (Lambda Mu), événement international francophone dédié à la maîtrise des risques et à la sûreté de fonctionnement organisé par l’Institut de Maîtrise des Risques revient en 2022 pour sa 23e édition. Cette nouvelle édition placée sous le thème « INNOVATIONS ET MAÎTRISE DES RISQUES POUR UN AVENIR DURABLE » se veut un […]

  • 6ème rencontre PHM France – Bordeaux

    SERMA à BORDEAUX 14 Rue Galilée, Pessac, France

    Le comité de pilotage de la communauté PHM France a le plaisir de vous annoncer la tenue de la 6ème rencontre sur le thème du Prognostics and Health Management, le mardi 15 novembre à Bordeaux. Vous serez accueillis par Serma Technologies, sur leur site de Pessac, grâce à M. Francis Dupouy, Directeur Général SERMA Technologies […]

  • Séminaire CFF

    Rouen

    Thématique : Avancée des travaux et projets sur la fiabilité des technologies Wide Band Gap (WBG) Lieu : Technopôle du Madrillet Avenue de l'Université, 76800 Saint-Étienne-du-Rouvray au sein de l’Université […]

  • 5e éd. NRTW [National Reliability Technology Workshop]

    Rouen

    Thématique : La température dans la fiabilité des systèmes et des composants électroniques Lieu : Technopôle du Madrillet Avenue de l'Université, 76800 Saint-Étienne-du-Rouvray au sein de l’Université de Rouen et […]

  • RDV Fiabilité du CFF – Avril 2023

    Sujet : Modèles électrothermiques en utilisant des outils numériques pour faire le lien entre le stress électrique appliqué et la température dans le composant Intervenant : Abdelkhalak EL HAMI (LMN, […]