Journée Technique : La fiabilité dans les risques technologiques et ses « gamechangers » organisé par IEEE France Section, IEEE Reliability Society et GeePs Hakeim Talleb, Directeur Adjoint GeePs Laboratory René Garello, Président, IEEE France Section Emna Amri, Présidente Les génies de l’avenir Hichame Maanane, Responsable du Chapitre fiabilité IEEE France Section GRATUIT

This international symposium continues to focus on recent developments and future directions in Quality and Reliability Management of materials, devices and circuits for micro-, nano-, and optoelectronics. It provides a European forum for developing all aspects of reliability management and innovative analysis techniques for present and future electronic applications.