Vous avez une question ? Une problématique Fiabilité ? Contactez nos experts :
Vous avez une question ? Une problématique Fiabilité ? Contactez nos experts :
MicroMA : acquisition et enregistrement de données micro modulaires sans fil Le microMA de Safran Data Systems est un nouveau dispositif d'acquisition et d'enregistrement de données miniature et modulaire, idéal […]
Le but de ce rendez-vous est de partager les compétences au sein de la communauté CFF : introduction des nouveaux membres et carte blanche à un industriel ou académique pour […]
Le but de ce rendez-vous est de partager les compétences au sein de la communauté CFF : introduction des nouveaux membres et carte blanche à un industriel ou académique pour […]
Le but de ce rendez-vous est de partager les compétences au sein de la communauté CFF : introduction des nouveaux membres et carte blanche à un industriel ou académique pour […]
L’objectif de ces Tech Hour est de fournir une veille sur des technologies de pointe par l’intervention d’un expert, structurée en deux temps : Présentation scientifique de la technologique Présentation des […]
Thématique : Essais Environnementaux et Irradiations Garantir la Fiabilité des Systèmes et Composants électroniques en Conditions Extrêmes Lieu : GANIL - Bd Henri Becquerel | 14000 CAEN Programme : Contexte et enjeux de la fiabilité en conditions extrêmes Essais Environnementaux Accélérés et Aggravés (en synergie avec ASTE) Irradiation des Composants : Méthodologies et Effets Modélisation […]
Technologie TDM (Topography Deformation Measurement) et ses applications dans le secteur de l’électronique par Thomas MONCOND’HUY (INSIDIX) La technologie TDM (Topography Deformation Measurement) est une gamme d’instruments de mesure de déformation sous contrainte thermique permettant de mesurer des déformations du micron au millimètre sur la plage -65°C/400°C. Cette technique répond à des besoins de qualification […]
Exclusivité réservée aux membres du CFF : Le CFF organise plusieurs animations au cœur du Salon International de l'Aéronautique et de l'Espace. NAE offre le billet d'entrée aux personnes inscrites. Le comité d'organisation se réserve le droit de limiter le nombre d'entrées par entité. Programme provisoire 10.00 Accès libre au salon 11.30 Event IEEE-CFF […]
Thématique : Fiabilité électronique et photonique : Évaluer, prédire, maîtriser Lieu : GRENOBLE (38) Programme : Contexte et enjeux de la fiabilité en conditions extrêmes #1- Comment évaluer et comprendre […]