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DESCRIPTION:RADiation and its Effects on Components and Systems
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SUMMARY:Journée Technique IEEE
DESCRIPTION:Journée Technique : La fiabilité dans les risques technologiques et ses « gamechangers » \norganisé par IEEE France Section\, IEEE Reliability Society et GeePs \n\nHakeim Talleb\, Directeur Adjoint GeePs Laboratory\nRené Garello\, Président\, IEEE France Section\nEmna Amri\, Présidente Les génies de l’avenir\nHichame Maanane\, Responsable du Chapitre fiabilité IEEE France Section\n\nGRATUIT
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LOCATION:Paris Sorbonne\, Campus Pierre et Marie Curie 4\, place Jussieu\, Paris\, 75005\, France
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SUMMARY:ESREF 2025
DESCRIPTION:36e Symposium ESREF = European Symposium on Reliability of Electron Devices\, Failure Physics and Analysis \nCette édition se déroule en France\, à Bordeaux. \nOrganisé par IMS et  Université de Bordeaux\, en collaboration avec LAAS-CNRS\, Université de Toulouse\, CNES Toulouse et ADERA.
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LOCATION:Palais de la Bourse à Bordeaux\, 17\, Place de la Bourse\, Bordeaux\, 33076\, France
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